y (т.е. вдоль поверхности образца) с точностью выше 1%? Желательно чтобы калибровать скан длиной 50 микрон. У нас только стандартные решётки от nt-mdt с периодом 3 микрона +- 0.05 микрон (т.е. почти 2% погрешность).
Или не имеет смысл такая точность если сканирование делается пьезо подвижками? (я ещё не читал какая у них точность)
Есть дифракционные решетки. Там период определен с бОльшей точностью.
Хм, надо будет посмотреть, спасибо за совет
Как же всё просто получается! Вот только странно, почему у калибровочных решёток для AFM такая низкая точность? Что может быть проще - померять угол дифракции! А длину волны можно взять точно (например, гелий-неоновый лазер)
Тут даже углы никакие не надо считать и лазер не нужен. Решетки уже специфицируются по параметру число штрихов на мм. То есть период уже прописан в паспорте решетке с точностью типа 0.1% для решёток 3600 например. И цена вопроса 100$. https://www.thorlabs.com/newgrouppage9.cfm?objectgroup_id=25 Только чтобы из оптики такие точности получить экспериментально, это ещё постараться надо. И да, лазер 633 тут не подойдёт) Там отсечка раньше будет, эта решетка не разлагает длины волн выше 550 нм или около того.
У самих пьезо-подвижек точность полный отстой. Я недавно выкладывал тут свою статью в ПТЭ, один из рисунков в которой -- интерференционная калибровка на волне 633нм перемещения модулирующего зеркала в опорном плече Майкельсона. Там и крип, и отставание по фазе, и нелинейность отклика. В общем, чистейшее, как говорят орнитологи, гуано. Не окаменевшее притом. Ошибка до 10%. Это у меня на зеркале стояли три параллельно стека от PI, по трем углам пластинки-зеркала. И пластинку-то мне пришлось взять кремниевую с позолотой, потому что торлабсовское зеркальце PF05 (диаметром 12мм) эти три стека вообще сдвинуть не могли без чудовищных искажений. Я бы надежды возлагал на датчики смещения. Либо тензо- либо по слухам емкостные точнее. Оптические методы стоит рассмотреть. Например Майкельсон с модуляцией длины второго плеча. По отношению первой и второй гармоник в выходном сигнале можно точно узнать свое положение на косинусе интерференционного отклика, притом независимо от мощности лазера.
Это всё правильно, в большинстве сканеров и стоят емкостные датчики для контроля XY перемещений. Единственное их ограничение - как правило, латеральный шум порядка 2нм. И если у кого-то есть желание лезть ещё глубже, тогда приходится лезть как раз к 1-3 мкм сканерам и калибровке по супер-малым объектам. При этом калибровка и сканирование там идут примерно по одному полю, поэтому нелинейность не столь влияет. Она скорее для разных диапазонов или направлений перемещения эффект даёт. От крипа можно избавляться несколькими рестартами в начале сканирования. Ну то есть лучше, конечно, намного лучше с датчиками, но иногда приходится придумывать что-то без них
Недавно мы отправили в печать статью по дифракционной решетке в качестве калибровочной меры. Период строго привязан к длине волны света. Полоски длиной до 10 мм.
Но там же термический дрифт будет, особенно если нагромождать блоки поверх без просчета термокомпенсации. Сами подвижки же не при чем. Можно наоборот обратную связь на подвижку через интерферометр пустить и по ней смещение компенсировать
Это ведь не возражение. Мое заявление было в том, что пьезостеки в метрологическом смысле полное дерьмо, и перемещение обеспечивают сугубо приблизительно.
Не согласен. Стек дает погрешность от места, куда он крепится с одной стороны к месту, куда он крепится с другой. А как его поставили на на сколько большая петля получается и все все это термически дрейфует это совсем другая история
А деформации зеркала учитывались? Как по мне, если это 500 микрон кремния, закреплённые в трёх углах, то дело плохо.
Кремний пришлось взять потолще, верно.
Обсуждают сегодня